Aukštos ir žemos temperatūros bandymas naudojamas siekiant patvirtinti produkto prisitaikymą sandėliuojant, vežant ir naudojant aplinkos sąlygomis, esant temperatūrai ir drėgmei. Bandymo sunkumas priklauso nuo aukštos ir (arba) žemos temperatūros, drėgmės ir poveikio trukmės. Šio bandymo įranga yra aukštos ir žemos temperatūros dėžutė, tinkama aukštai ir žemai elektros ir elektroninių gaminių (įskaitant komponentus, įrangą ir kitus gaminius) temperatūrai. Bandymo standartai, pvz.: GB/T2423.2. IEC 60068-2-2, IEIA 364, MIL-STD-810F ir kt.
Daiktai, kurių negalima naudoti bandymams, pvz., sprogmenys, degiosios medžiagos ir degiosios medžiagos.
Atlikus aukštos ir žemos temperatūros bandymą, bandymas atliekamas siekiant nustatyti, ar gaminio veikimas vis dar gali atitikti iš anksto nustatytus gaminio projektavimo, tobulinimo, identifikavimo ir gamyklos tikrinimo reikalavimus.
